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1、原子發(fā)射光譜儀的新型數(shù)字光源與傳統(tǒng)光源有哪些差異?
原子發(fā)射光譜儀的激發(fā)光源有熱激發(fā)光源(如火焰)、電激發(fā)光源(如電弧和火花)、等離子體激發(fā)光源(如直流等離子體噴焰(DCP)、電感耦合等離子體炬(ICP)和微波電感等離子體炬(MIP))、激光光源等.常用的激發(fā)光源性能如表2所示.
原子發(fā)射光譜儀采用的多為火花光源,也有少量采用電弧光源分析礦物或超低含量合金.傳統(tǒng)的火花光源采用電容電感充放電原理,電容電感參數(shù)確定后,激發(fā)波形固定,所有元素均采用相同的激發(fā)波形;但是不同樣品和不同元素需要不同激發(fā)波形,例如激發(fā)電位高的元素需要火花型放電波形提供高的激發(fā)能量,痕量元素需要電弧型放電波形改善蒸發(fā)效果,因此傳統(tǒng)火花光源的激發(fā)效果較差.
新型的數(shù)字光源采用多高頻電源脈沖合成技術(shù),可實(shí)現(xiàn)任意激發(fā)波形,針對(duì)不同元素采用最合適的激發(fā)波形,獲得最佳激發(fā)效果,以滿足不同基體的分析需求,是傳統(tǒng)激發(fā)光源無(wú)法比擬的.
2、為什么小型全譜原子發(fā)射光譜儀能達(dá)到大型多道光譜儀的分辨效果?
原子發(fā)射光譜儀的分辨率受到入縫寬度、出縫寬度、光柵刻線數(shù)、光譜儀的焦距、光線入射角、光譜級(jí)次等因素的綜合影響,其中全譜和多道原子發(fā)射光譜儀的主要區(qū)別在于出入縫寬度、光柵刻線數(shù)和焦距的不同.全譜型原子發(fā)射光譜儀雖然焦距比較小,但其采用了更窄的入縫和更高刻線數(shù)的光柵,因此其光學(xué)分辨率與大型多道光譜儀相當(dāng);而且大型多道原子發(fā)射光譜儀采用PMT作為檢測(cè)器,必須配合出縫來選擇光譜,受制于光譜強(qiáng)度、出縫的加工和光學(xué)調(diào)試難度等因素的影響,出縫寬度通常在50μm左右,影響了多道光譜儀的分辨能力.而全譜型原子發(fā)射光譜儀采用CCD作為檢測(cè)器,其像素寬度僅為10μm左右,大大提高了光譜的分辨能力.
3、光譜儀定性和定量計(jì)算原理是什么?
光譜儀是指能夠?qū)⒐庠窗l(fā)射出來的具有各種波長(zhǎng)的復(fù)色光按照波長(zhǎng)順序展開,并通過檢測(cè)器測(cè)量不同波長(zhǎng)光譜強(qiáng)度的儀器.利用光譜儀獲得的元素特征波長(zhǎng)信息可以定性判斷樣品中是否含有該元素;通過元素特征譜線的強(qiáng)度可以定量計(jì)算該元素含量,即利用一系列標(biāo)樣制定工作曲線,對(duì)比待測(cè)試樣和工作曲線坐標(biāo)上的強(qiáng)度,得到待測(cè)試樣精確的含量.
4、原子發(fā)射光譜儀有哪些種類?
原子發(fā)射光譜儀可以有不同的劃分方法.
根據(jù)儀器的結(jié)構(gòu)不同,又可分為多道原子發(fā)射光譜儀和全譜原子發(fā)射光譜儀,其中前者多采用光電倍增管作為檢測(cè)器,后者多采用陣列檢測(cè)器(如CCD).
隨著CCD技術(shù)的不斷發(fā)展,原子發(fā)射光譜儀開始朝小型化、全譜型方向發(fā)展.小型化儀器功耗小,占用空間小且易于維護(hù);全譜原子發(fā)射光譜儀能夠獲得全波段范圍內(nèi)的光譜,滿足多基體分析要求,譜線選擇靈活,可以有效扣除光譜干擾,分析更準(zhǔn)確,而多道原子發(fā)射光譜儀只能檢測(cè)有限數(shù)量的光譜,很難做到這一點(diǎn).
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